折射率作为光学系统中应用最广泛的光学参数之一,对系统的光学性能具有极其重要的影响。厚度与折射率所组成的光学长度直接影响双折射器件在光学系统中的时延特性。本文提出一种基于光纤激光频率分裂效应的折射率/厚度双参量测量方法。该系统通过对插入激光腔内的双折射器件进行旋转,利用频率分裂效应对不同角度的器件的双折射参数进行测量。基于双折射器件中的折射率椭球,建立相位延迟、折射率、厚度和旋转角度之间的关系,通过拟合计算得到器件的折射率/厚度参数。实验结果表明,通过该系统对双折射元件的厚度测量误差为210 nm,本征折射率进行测量误差为10~(-5),可广泛应用于红外波段的双折射器件的本征折射率/厚度双参量测量。 (本文共计1页)......[继续阅读本文]