来源:《仪器仪表学报》1999年第04期作者:张宝峰,曹文斗,魏立锋
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用转矩仪测量薄膜磁各向异性的研究

本文讨论由转矩仪测量薄膜材料磁各向异性的一个新方法。当单轴各向异性膜材料的本征易轴随机取向与膜平面的夹角为α时,通过测量本征易轴和形状各向异性易轴合成的表观易轴的取向(与膜平面间的夹角)以及常数值,就可以计算得到膜材料的本征磁各向异性常数和易轴的空间取向。 (本文共计1页)......[继续阅读本文]

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