来源:《实验教学与仪器》1996年第05期 作者:王松德,智艾娣
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自制半导体元件反向击穿电压测量仪

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<正> 反向击穿电压是半导体元件的重要参数之一,它直接关系到管子的安全使用问题。利用晶体管图示仪,虽然可以测量电子元件的反向击穿电压,但由于集电极扫描信号峰值电压低(0~200V),不能用来测量高反压元件的击穿电压。为此我们设计制作了半导体元件参数测量仪。(本文共计2页)       [继续阅读本文]

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实验教学与仪器杂志1996年第05期
实验教学与仪器
主办:教育部基础教育课程教材发展中心
出版:实验教学与仪器杂志编辑部
出版周期:月刊
出版地:湖南省长沙市

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