来源:《理化检验-物理分册》2017年第07期 作者:王晓宇;任丽萍;徐星泓;吉静;吴益文;
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X射线衍射法测定圆棒表面残余应力的影响因素

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采用X射线衍射法测定了圆棒表面的残余应力,讨论了检测方法、检测设备状态、试样状态等因素对检测结果的影响。结果表明:在表面残余应力测定过程中,应在检测设备稳定工作的前提下,根据材料类型和晶体结构来选择检测参数,考虑试样的割取与保护对检测结果的影响;对于组织状态复杂的材料,可适当增加摆动角来提高检测精度。(本文共计5页)       [继续阅读本文]

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理化检验-物理分册杂志2017年第07期
理化检验-物理分册
主办:上海材料研究所
出版:理化检验-物理分册杂志编辑部
出版周期:月刊
出版地:上海市

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