来源:《理化检验-物理分册》2005年第05期 作者:吴立敏,盛克平,王虎
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光子相关光谱法对颗粒平均粒径测量结果的不确定度评定

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介绍了PCS方法测定颗粒平均粒径的不确定度评定方法。由于光子相关光谱法测量纳米及亚微米颗粒粒度的方法已得到了广泛的应用,但该方法测量原理、数据处理的复杂性以及样品颗粒的多样性,对测量不确定度的评定带来了许多困难。从系统效应和随机效应两方面详细完整地评定了PCS法测量颗粒平均粒径的不确定度的各项来源,为分析工作者提供了范本,不仅可用于其它纳米、亚微米材料的测定结果的评定,而且可为纳米领域检测过程中进一步提高实验数据的可靠性和一致性作参考。(本文共计5页)       [继续阅读本文]

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理化检验-物理分册杂志2005年第05期
理化检验-物理分册
主办:上海材料研究所
出版:理化检验-物理分册杂志编辑部
出版周期:月刊
出版地:上海市

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