来源:《理化检验-物理分册》2002年第07期 作者:沈春玉,储刚,李雪萍
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X射线衍射法测定分子筛晶胞参数与结晶度

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用X射线衍射外推函数法测定饱和吸水前后NaY分子筛的晶胞参数和结晶度 ,再与2 9Si和2 7Al固体魔角核磁共振谱仪所测定的NaY分子筛骨架中的硅铝比进行关联 ,得到了X射线衍射法测定NaY分子筛骨架中硅铝比的经验公式 ,达到了测定NaY分子筛骨架中硅铝比的要求。试验结果表明 ,测定NaY分子筛晶胞参数和结晶度的有效方法是在测定前对分子筛进行稳化处理 ,使其饱和吸水 ,比通常采用的化学方法省时 ,结果准确 ,重复性好(本文共计4页)       [继续阅读本文]

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理化检验-物理分册杂志2002年第07期
理化检验-物理分册
主办:上海材料研究所
出版:理化检验-物理分册杂志编辑部
出版周期:月刊
出版地:上海市

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