来源:《理化检验-物理分册》2001年第11期 作者:周克印,姚恩涛,吴永端,邓宗白
选择字号

基于神经网络的耳片疲劳损伤状态分析系统

分享到: 分享到QQ空间

分析了影响耳片结构疲劳状态的主要因素 ,把这些因素归纳为静强度、抗疲劳设计与制造以及使用过程中的疲劳积累三大类。采用多层B P人工神经网络结构 ,构造了能映射各因素与总体效果影响的人工神经网络系统。该系统采用了一个主网络和两个子网络的结构 ,降低了状态空间的维数 ,提高了运算速度 ,较好地反映了实际结构的疲劳失效机理 ,为耳片结构的疲劳评估提供了一种较客观的方法(本文共计3页)       [继续阅读本文]

下载阅读本文     订阅本刊
   

相关文章推荐

理化检验-物理分册杂志2001年第11期
理化检验-物理分册
主办:上海材料研究所
出版:理化检验-物理分册杂志编辑部
出版周期:月刊
出版地:上海市

本期目录