来源:《理化检验-物理分册》1998年第10期 作者:郭宁,秦紫瑞
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原子力显微镜的发展与表面成象技术

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原子力显微镜(AFM)因其具有超高三维分辨,非接触无损成象,显微倍率连续可调等特点,被誉为是目前国际显微科学的重大突破和现代表面分析技术的革命性进展.通过采用AFM对材料的表面实时扫描成象,获得更为真实而丰富的三维图象信息,其在材料的表面科学研究领域中将会有广阔的应用前景.(本文共计4页)       [继续阅读本文]

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理化检验-物理分册杂志1998年第10期
理化检验-物理分册
主办:上海材料研究所
出版:理化检验-物理分册杂志编辑部
出版周期:月刊
出版地:上海市

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