来源:《电子世界》2021年第07期 作者:范仁艳;支天;
选择字号

基于UVM的验证接口封装方法

分享到: 分享到QQ空间

<正>验证是集成电路设计过程中的重要环节,目的是为了发现设计缺陷。验证周期和验证对象的复杂性成正比。在保证验证质量的前提下,验证效率也是验证的重要指标。在基于UVM的传统验证环境中,driver、monitor、scoreboard等组件存在大量冗余重复代码,编码效率低,不易维护和管理,可复用性差,从而影响验证效率。针对此问题,在UVM环境框架基础之上,提出一种验证接口封装方法,达到一份代码多方复用的效果,提高验证效率。(本文共计2页)       [继续阅读本文]

下载阅读本文     订阅本刊
   

相关文章推荐

电子世界杂志2021年第07期
电子世界
主办:中国电子学会
出版:电子世界杂志编辑部
出版周期:半月
出版地:北京市

本期目录