来源:《电子世界》2018年第18期 作者:杨斌;史亚维;
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数字芯片中时钟产生模块的设计与验证

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<正>随着今年美国对中兴芯片禁止事件的发展,国人对芯片越来越重视,然而时钟产生模块(Clock Generation Unit, CGU)是数字芯片不可缺少的一部分。因此,本文给出了数字芯片中时钟产生模块的基本设计结构,提出了基于C语言的直接功能验证和基于UVM方法学的随机功能验证结合的有效方法,达到了功能覆盖率和代码覆盖率的要求,使得设计更符合功能要求。(本文共计1页)       [继续阅读本文]

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电子世界杂志2018年第18期
电子世界
主办:中国电子学会
出版:电子世界杂志编辑部
出版周期:半月
出版地:北京市

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