来源:《电子世界》2018年第06期 作者:盛大德;王立夫;庞华山;武占英;毛继禹;
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基于DOE方法的Mura检查机检出率提升研究与应用

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本文以8.5G CF面板为基础,将试验设计(DOE)方法学应用于Mura检查机检出率提升项目中。试验方案基于先进的DOE理论,以数学建模、计算机辅助建模为基础,采用自编试验设计程序、建模算法及优化程序等进行合理计算[1]。通过实验测试,DOE方法能够缩短整体实验时间,达到理想的设备参数设定效果。(本文共计3页)       [继续阅读本文]

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电子世界杂志2018年第06期
电子世界
主办:中国电子学会
出版:电子世界杂志编辑部
出版周期:半月
出版地:北京市

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