来源:《电子世界》2012年第12期 作者:辛啟华;
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电子设备热损坏的简要分析及对策

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电子设备在使用过程中发热乃至造成热损坏是难以避免的。该文针对这个问题简要分析了发热的原因及形成条件,同时从生产、使用等方面提出了相应的改进意见,通过文中所列举的改进措施,对设备热损坏的控制、预防有一定地帮助,更重要的是可以通过这些初步的分析、列举,起到抛砖引玉的作用。(本文共计2页)       [继续阅读本文]

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电子世界杂志2012年第12期
电子世界
主办:中国电子学会
出版:电子世界杂志编辑部
出版周期:半月
出版地:北京市

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