来源:《电子世界》2009年第09期 作者:吉时利;
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半导体C-V的测量

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<正> 电容-电压(C-V)测试广泛用于测量半导体参数,尤其是MOSCAP和MOSFET结构。此外,利用C-V测量还可以对其他类型的半导体器件和工艺进行特征分析,包括双极结型晶体管(BJT)、JFET、Ⅲ-Ⅴ族化合物器件、光伏电池、MEMS器件、有机TFT显示器、光电二极管、碳纳米管(CNT)和多种其他半导体器件。这类测量的基本特征非常适用于各种应用和培训。大学的研究实验室和半导(本文共计2页)       [继续阅读本文]

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电子世界杂志2009年第09期
电子世界
主办:中国电子学会
出版:电子世界杂志编辑部
出版周期:半月
出版地:北京市

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