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IP软核的测试技术研究

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随着超大规模集成电路技术的不断发展,集成电路的集成度不断增加;片上系统(SOC)的规模越来越大,片上系统的设计就变得越来越复杂。开发IP核成为SOC的重要设计手段。同时,IP核的测试也对科研人员提出了新的挑战。本文重点描述了IP的测试技术,证明了文献[1]中给出的伪穷举法。并以可编程8255并行I/O接口芯片为例说明了使用伪穷举法进行了IP核校验的方法。(本文共计3页)       [继续阅读本文]

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电脑编程技巧与维护杂志2003年第08期
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主办:信息产业商会
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出版地:北京市

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