来源:《仪器仪表学报》2006年第S2期作者:张瑜;祖静;裴东兴;
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数字专用集成电路成测系统设计

由于专用集成电路具有用途广泛、功能特殊、内部电路复杂的特点,因此很难用通用的测试方法全面检测其静、动态参数。针对这一问题,并根据数字专用集成电路芯片HB0202的成测需要,设计了一套专用检测系统,介绍了系统的硬件设计和软件设计过程。 (本文共计1页)......[继续阅读本文]

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