来源:《仪器仪表学报》2006年第S2期作者:连光耀;黄考利;陈建辉;高凤岐;
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装备测试性设计关键技术研究

从CAD的发展入手,对电子装备测试性设计技术进行分析和总结。依照“并行工程”的思想,给出了装备测试性智能设计系统的层次结构和模型,阐述了测试性设计与装备其他设计属性的关系,最后从知识的表示方法、知识的获取途径和知识的应用三个方面对实现测试性智能设计的关键技术进行了研究。 (本文共计1页)......[继续阅读本文]

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