来源:《仪器仪表学报》2006年第S2期作者:毛海央;张文栋;熊继军;薛晨阳;
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共振隧穿二极管Ⅰ-Ⅴ特性的一致性测试与研究

共振隧穿二极管(RTD)具有类似于硅的压阻特性。为了定量表达RTD的压阻特性,对其Ⅰ-Ⅴ特性一致性的研究显得十分必要。文中设计一个恒温、恒压实验测试系统,测试同一个RTD结构在不同时间的Ⅰ-Ⅴ特性。实验结果表明,RTD结构的电阻在不同时间的最大相对漂移量小于3%。随后测试仪器的测量误差,发现其中1%的相对漂移量由测试仪器造成。 (本文共计1页)......[继续阅读本文]

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