来源:《电子技术应用》2011年第05期 作者:裴东兴;任武林;
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组合压缩在存储测试系统中的应用

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在某些特殊的测试环境中,存储测试系统中既要求大容量数据存储又要求微体积。为解决这一矛盾,在研究了游程压缩和LZW两种算法的基础上,提出了以FPGA为核心实现两种算法的无损组合压缩,利用FPGA芯片内的RAM来建立字典,用VHDL语言和状态机实现该压缩算法。仿真和综合验证表明,通过FPGA实现该组合算法,压缩效果显著,压缩性能与压缩速度均满足系统要求。(本文共计3页)       [继续阅读本文]

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电子技术应用杂志2011年第05期
电子技术应用
主办:华北计算机系统工程研究所
出版:电子技术应用杂志编辑部
出版周期:月刊
出版地:北京市

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