来源:《电脑迷》2018年第11期 作者:王鑫;
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集成电路多工位测试中防呆技术的应用

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集成电路测试是电子技术设计中的重要内容。其中多工位测试手段在改善测试效率方面有着重要的应用。但在实际使用过程中,这种测试方式存在一定的安全隐患,严重时会造成事故,导致工作量增大。因此需要采用一定的技术进行预防,其中防呆技术就是一种有效的方式。基于此,本文将重点阐述防呆技术在集成电路多工位测试中的应用。(本文共计1页)       [继续阅读本文]

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电脑迷杂志2018年第11期
电脑迷
主办:电脑报社
出版:电脑迷杂志编辑部
出版周期:月刊
出版地:重庆市

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